技术文章您的位置:网站首页 >技术文章 >植物冠层分析仪如何测量果树的叶面积指数

植物冠层分析仪如何测量果树的叶面积指数

更新时间:2024-04-08   点击次数:44次

  植物叶面积指数是果树冠层生物学特征的一个重要参数,它可以影响果园的产量、品质以及光能的截获,在一定程度上决定了果园的生产效率。测量叶面积指数的方法有直接测量法和间接测量法,直接测量法具有破坏性,且费时费力,不能重复,操作困难。间接测量法分为相对生长法和光学法,应用比较广泛,植物冠层分析仪就是属于光学法的,特点是携带方便,可直接给出叶面积指数值。下面我们就来了解下如何使用植物冠层分析仪测量果树的叶面积指数。

  首先将仪器摄像头放在需要测量的果树冠层下方,打开冠层自动采集软件,选择连接,用户可以在计算机屏上看到清洗的动态图像,然后选择串口,再选择实时显示,便会显示实时光合有效辐射强度值,选择获取方式便可获取冠层图像和相关的参数值,图像格式为标准的位图图像,图像和光合有效辐射强度保存于计算机中的D盘中,打开冠层分析软件,选择需要打开的冠层图像,点击测量按钮,调节适当的阈值可以计算出果树冠层的叶面积指数、叶片平均倾斜角度等参数,计算结果将直接显示在计算机屏幕上,也可方便地将它以文本文件的形式保存在计算机中。

2.jpg

  以上即是利用植物冠层分析仪测定果树叶面积指数的具体流程,打开仪器的各个部件与数据连接线连接起来,包括鱼眼镜头与测杆的连接,笔记本与测杆的USB连接线,笔记本与电池盒的USB连接,测杆与电池盒的连接插头等。各个部件正确连接后,打开笔记本电源和电池盒电源开关,打开植物冠层分析软件,自动采集软件可以方便地采集植物冠层图像和光合有效辐射强度、叶面积指数等信息。